Jelektromagnitnaya defektoskopiya-tolshhinometriya obsadnyh kolonn i NKT
Jelektromagnitnaq defektoskopiq
- Editore:
LAP Lambert Academic Publishing
- EAN:
9786139814855
- ISBN:
6139814855
- Pagine:
- 180
- Formato:
- Paperback
- Lingua:
- Russo
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Descrizione Jelektromagnitnaya defektoskopiya-tolshhinometriya obsadnyh kolonn i NKT
V knige izlozheny teoreticheskie osnowy magnitoimpul'snoj defektoskopii ¿ tolschinometrii mnogokolonnyh skwazhin. V nej rassmotreny reshaemye zadachi, woprosy swqzannye s ocenkoj dostowernosti poluchennyh rezul'tatow. Pokazany wozmozhnosti metoda po rezul'tatam fizicheskogo i matematicheskogo modelirowaniq. Priwedeny primery ocenki tehsostoqniq kolonn. Kniga rasschitana na inzhenerow i nauchnyh rabotnikow, zanimaüschihsq ocenkoj tehsotoqniq skwazhin i älektromagnitnymi issledowaniqmi.
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