Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik di Olaf Schmidt edito da Examicus Publishing
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Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

EAN:

9783867461948

ISBN:

3867461945

Pagine:
96
Formato:
Paperback
Lingua:
Tedesco
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Descrizione Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Größenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Größen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.

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