Ultrafast X-ray Sources And Detectors di Zenghu Chang, George A. Kyrala, Jean-Claude Kieffer edito da Spie Press

Ultrafast X-ray Sources And Detectors

Editore:

Spie Press

EAN:

9780819468512

ISBN:

0819468517

Pagine:
166
Formato:
Paperback
Lingua:
Inglese
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