Second International Workshop On Pattern Recognition
- Editore:
Spie Press
- Collana:
- Proceedings Of Spie
- EAN:
9781510613508
- ISBN:
1510613501
- Pagine:
- 348
- Formato:
- Paperback
- Lingua:
- Inglese
Acquistabile con
o la
Descrizione Second International Workshop On Pattern Recognition
Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.
Fuori catalogo - Non ordinabile
Recensioni degli utenti
e condividi la tua opinione con gli altri utenti
