Reliability, Packaging, Testing, And Characterization Of Mems/moems And Nanodevices X
24-25 January 2011, San Francisco, California, United States
- Editore:
Spie Press
- EAN:
9780819484659
- ISBN:
0819484652
- Pagine:
- 256
- Lingua:
- Inglese
Acquistabile con
o la
Fuori catalogo - Non ordinabile
Recensioni degli utenti
e condividi la tua opinione con gli altri utenti