X-Ray Microscopy and Spectromicroscopy: Status Report from the Fifth International Conference, Wa1/4rzburg, August 19-23, 1996
- Editore:
Springer
- EAN:
9783540639985
- ISBN:
3540639985
- Pagine:
- 380
- Formato:
- Hardback
- Lingua:
- Tedesco
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