Photo-induced Defects in Semiconductors di David Redfield, Richard H. Bube edito da Cambridge University Press
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Photo-induced Defects in Semiconductors

EAN:

9780521461962

ISBN:

0521461960

Pagine:
230
Formato:
Hardback
Lingua:
Inglese
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Descrizione Photo-induced Defects in Semiconductors

This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. These metastable defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices.

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