Patentrecherche - Technologieüberwachung durch künstliche Intelligenz di Katharina Heil edito da GRIN Publishing
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Patentrecherche - Technologieüberwachung durch künstliche Intelligenz

EAN:

9783640366002

ISBN:

364036600X

Pagine:
44
Formato:
Paperback
Lingua:
Tedesco
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Descrizione Patentrecherche - Technologieüberwachung durch künstliche Intelligenz

Bachelorarbeit aus dem Jahr 2009 im Fachbereich BWL - Sonstiges, Note: 2, Campus02 Fachhochschule der Wirtschaft Graz, Sprache: Deutsch, Abstract: Die permanente Überwachung des Technologiefortschritts bedarf eines sehr hohen Zeitaufwandes und ausgeprägter Fachkenntnisse. Der enorme Anstieg an technologischem Wissen erfordert eine Verbesserung herkömmlicher Methoden zur Recherche bestehenden geistigen Eigentums. In der vorliegenden Arbeit werden die Grundlagen der Patentrecherche näher beleuchtet. Dabei werden die geschützten Patente und übliche Recherchemethoden näher erläutert. Den Schwer-punkt der Arbeit bildet die Darstellung der Optimierung bekannter Recherchemethoden durch die Machine-Learning-Technik mit Hilfe die Support Vector Machine (SVM). Die SVM ist ein Lernalgorithmus zur Ableitung von Gesetzmäßigkeiten aus digitalen Informationen wodurch einerseits die Qualität der Rechercheergebnisse erhöht und andererseits die Durchlaufzeit der Recherche deutlich reduziert wird. Das Material das die Grundlage dieser Arbeit bildet, wurde im Zeitraum von Dezember 2008 bis März 2009 gesammelt. Für die Erstellung dieser Arbeit wurden Werke der relevanten Literatur gesichtet und gesammelt sowie Experteninterviews geführt.

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