Nano- And Micro-metrology
- Editore:
Spie Press
- Collana:
- Proceedings Of Spie
- EAN:
9780819458582
- ISBN:
0819458589
- Formato:
- Paperback
- Lingua:
- Inglese
Acquistabile con
o la
Descrizione Nano- And Micro-metrology
Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.
Prodotto momentaneamente non disponibile
Inserisci la tua e-mail per essere informato appena il libro sarà disponibile
Recensioni degli utenti
e condividi la tua opinione con gli altri utenti
