Modifikaciya struktury i svojstv polimera implantaciej ionov metalla

Cel'ju nastoyashhej raboty yavlyalos' issledovanie metodom atomno-silovoj mikroskopii i opticheskoj spektroskopii tonkih polimernyh pljonok, podvergshihsya implantacii ionov metalla pri razlichnyh dozah i plotnostyah ionnogo toka. Dlya jetogo ispol'zovalsya implantator, atomno-silovoj mikroskop Solver P-47 Pro i spektrometr Specord UV VIS, v diapazone dlin voln ot 300 nm do 800 nm. Ustanovleny zavisimosti kojefficienta srednej sherohovatosti poverhnosti, jelementnogo sostava i kojefficienta opticheskogo pogloshheniya ot dozy ionnoj implantacii. Opredeleny razmery formirujushhihsya v hode implantacii uglerodnyh nanoklasterov v glubine implantirovannogo sloya i razmery nanostruktur, obrazovannyh na poverhnosti polimera.