Modeling and Characterization of RF and Microwave Power Fets di Peter Aaen, Jaime A. Pl, John Wood edito da Cambridge University Press
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Modeling and Characterization of RF and Microwave Power Fets

EAN:

9780521336178

ISBN:

0521336171

Pagine:
380
Formato:
Paperback
Lingua:
Inglese
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Descrizione Modeling and Characterization of RF and Microwave Power Fets

This book was the first to be devoted to the compact modeling of RF power FETs. In it, you will find the techniques, verification and validation procedures required to produce a transistor model. The text also contains real-world examples.

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