Millimeter, Submillimeter, And Far-infrared Detectors And Instrumentation For Astronomy
29 June-2 July 2010, San Diego, California, United States
- Editore:
Spie Press
- EAN:
9780819482310
- ISBN:
0819482315
- Pagine:
- 884
- Formato:
- Paperback
- Lingua:
- Inglese
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