Mems Reliability For Critical And Space Applications
- Editore:
Spie Press
- EAN:
9780819434777
- ISBN:
0819434779
- Pagine:
- 176
- Formato:
- Paperback
- Lingua:
- Inglese
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Descrizione Mems Reliability For Critical And Space Applications
A selection of scientific papers on the reliability of microelectromechanical systems (MEMS) for critical and space applications.
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