Journey to Data Quality di Yang W. Lee, Leo L. Pipino, Richard Y. Wang, James D. Funk edito da MIT Press Ltd

Journey to Data Quality

EAN:

9780262513357

ISBN:

0262513358

Pagine:
240
Formato:
Paperback
Lingua:
Inglese
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Descrizione Journey to Data Quality

A guide for assessing an organization's data quality practice and a roadmap for implementing a viable data and information quality management program, based on rigorous research and drawing on real-world examples.

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