Issledovanie tonkikh plenok PbS po ellipsometricheskim metodom
- Editore:
LAP Lambert Academic Publishing
- EAN:
9783659609398
- ISBN:
3659609390
- Pagine:
- 56
- Formato:
- Paperback
- Lingua:
- Tedesco
Descrizione Issledovanie tonkikh plenok PbS po ellipsometricheskim metodom
V knige sobrany stat'i poslednih let o poluchenie monokristallow i tonkih plenok poluprowodnikowyh soedinenij PbS, issledowanie rentgnostrukturnyh i opticheskih swojstw po ällipsometricheskim metodam. Byl opredelen optimal'nyj rezhim osazhdeniq i mehanizm reakcii polucheniq tonkoj plenki. Ustanowleno nowaq kubicheskaq faza w nanoplenke w otlichie ot krupnokristallicheskoj kubicheskoj struktury. Izmereny tolschina i nekotorye znachenie diälektricheskih funkcii obrazcow PbS po ällipsometricheskim metodam, Dlq izucheniq opticheskih swojstw tonkoj plenki PbS na steklqnnyh podlozhkah byl ispol'zowan infrakrasnyj spektrofotometr "Nikolet ¿S -10" i opredelena spektr pogloscheniq w oblasti infrakrasnogo spektra tonkoj plenki PbS suschestwuüschij na fone pikow funkcional'nyh grupp. Iz fonah ätih pikow posle identifikacii pogloschenie otnosqschij tol'ko dlq tonkoj plenki PbS byli postroeny zawisimosti . Dlq wychisleniq shirinu zapreschennoj zony poluprowodnika ispol'zowalas' formula Tauca. V rezul'tate issledowanij opredeleny tolschina plenok i ¿1 i ¿2 ¿ diälektricheskie konstanty. Obschaq tolschina tonkih plenok bylo w porqdke 112,1 nm (tolschina plenki - 87,7 nm + sherohowatost' - 14, 4 nm). Metodami fiziko-himicheskogo analiz