Interferometry Xv
Techniques And Analysis: 2-4 August 2010, San Diego, California, United States
- Editore:
Spie Press
- EAN:
9780819482860
- ISBN:
0819482862
- Pagine:
- 400
- Formato:
- Paperback
- Lingua:
- Inglese
Acquistabile con
o la
Fuori catalogo - Non ordinabile
Recensioni degli utenti
e condividi la tua opinione con gli altri utenti