Estudo Das Varia Es De Processo Do Mixe
com Estágio de Chaveamento NMOS/PMOS
- Editore:
Lightning Source Uk Ltd
- EAN:
9786202402187
- ISBN:
6202402180
- Pagine:
- 124
- Formato:
- Paperback
Descrizione Estudo Das Varia Es De Processo Do Mixe
Este trabalho consiste no estudo das variações de processo do circuito do mixer diferencial com topologia de estágio de chaveamento NMOS/PMOS realizado por meio de simulações feitas com os softwares Advanced Design Systems (ADS) e Orcad PSpice, as quais proporcionaram análises estatísticas quanto aos parâmetros envolvidos no processo de manufatura do circuito integrado utilizando a metodologia de corner dos Piores Casos e Monte Carlo. Para isto, foi usado o Hit-Kit modelo 35 da Austriam Microsystems (AMS). Na simulação corner, foram empregados os tipos Worst Power, Worst Speed, Worst One e Worst Zero. E na simulação de Monte Carlo, os parâmetros dos transistores NMOS/PMOS analisados foram: tensão de limiar, espessura do óxido da porta, mobilidade dos elétrons, concentração de dopagem do canal e resistência da camada de difusão dreno/fonte, com tolerância de 15% para cada. O circuito é caracterizado na frequência de 0,9 GHz para RF, 1,0 GHz para OL e 100 MHz para FI, demonstrando sensibilidade frente às variações de processo, com parâmetro da tensão de limiar como principal fator na variação do Ganho de Conversão.
