Electromigration Inside Logic Cells di Sachin S. Sapatnekar, Ricardo Reis edito da Springer International Publishing Ag
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Electromigration Inside Logic Cells

Modeling, Analyzing And Mitigating Signal Electromigration In Nanocmos

EAN:

9783319488981

ISBN:

3319488988

Pagine:
118
Formato:
Hardback
Lingua:
Tedesco
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Descrizione Electromigration Inside Logic Cells

This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.

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