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Electromigration Inside Logic Cells
Modeling, Analyzing And Mitigating Signal Electromigration In Nanocmos
- EAN:
9783319840413
- ISBN:
331984041X
- Pagine:
- 118
- Formato:
- Paperback
- Lingua:
- Tedesco
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Descrizione Electromigration Inside Logic Cells
This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power.
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