Diagnostic for the characterization of nanometric structures in high. E-book
- Editore:
Editrice Univ. Fridericiana
- Data di Pubblicazione:
- luglio 2009
- EAN:
9788883380747
- ISBN:
8883380746
- Pagine:
- 102
Acquistabile con la
Fuori catalogo - Non ordinabile
€ 4.50
Recensioni degli utenti
e condividi la tua opinione con gli altri utenti