Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XI
- Editore:
Wiley-Blackwell
- EAN:
9780471978268
- ISBN:
0471978264
- Pagine:
- 1150
- Formato:
- Hardback
- Lingua:
- Inglese
Acquistabile con la
Descrizione Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XI
This volume contains 252 contributions presented as plenary, invited and contributed poster and oral presentations at the 11th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XI) held at the Hilton Hotel, Walt Disney World Village, Orlando, Florida, 7 12 September, 1997.
Fuori catalogo - Non ordinabile
Recensioni degli utenti
e condividi la tua opinione con gli altri utenti
