La traccia: dal sopralluogo al verdetto. Abstract del trattato di criminalistica di Antonio D'Arienzo edito da ICP

La traccia: dal sopralluogo al verdetto. Abstract del trattato di criminalistica

Editore:

ICP

Data di Pubblicazione:
2002
EAN:

9788887975062

ISBN:

888797506X

Pagine:
24
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