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Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques

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Descrizione

Achieve accurate and reliable parameter extraction using a broad range of techniques and models provided.

Dettagli del libro

Titolo: Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques
Redattori: Matthias Rudolph, Christian Fager, David E. Root
Editore: Cambridge University Press
Data di Pubblicazione: October 2011
ISBN: 0521762103
ISBN-13: 9780521762106
Pagine: 00366
Reparto: Microwaves

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