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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques

 

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Descrizione

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

Dettagli del libro

  • Titolo: Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques
  • Redattore: Lawrence C. Wagner
  • Editore: Springer
  • Data di Pubblicazione: January 1999
  • ISBN: 0412145618
  • ISBN-13: 9780412145612
  • Pagine: 00216
  • Reparto: Electronics - Circuits - Integrated

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