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Characterization Methods of Submicron Mosfets

Characterization Methods of Submicron Mosfets

di Hisham Haddara

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Dettagli del libro

Titolo: Characterization Methods of Submicron Mosfets
Autore: Hisham Haddara
Redattore: Hisham Haddara
Editore: Springer
Data di Pubblicazione: January 1996
ISBN: 0792396952
ISBN-13: 9780792396956
Pagine: 00248
Reparto: Electronics - Transistors

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