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1.
Semiconductor Process Reliability in Practice

Semiconductor Process Reliability in Practice
di Zhenghao Gan, Waisum Wong, Juin Liou - McGraw-Hill Professional Publishing - April 2012

Prezzo: € 109.81

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2.
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
di Cher Ming Tan, Zhenghao Gan, Wei Li - Springer - March 2011

Prezzo: € 113.05

Normalmente disponibile in 4/5 giorni lavorativi

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