Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

di Cher Ming Tan, Zhenghao Gan, Wei Li

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This book offers a thorough understanding of the applications of finite element method (FEM) to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability.

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Titolo: Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Autori: Cher Ming Tan, Zhenghao Gan, Wei Li
Editore: Springer
Data di Pubblicazione: March 2011
ISBN: 0857293095
ISBN-13: 9780857293091
Pagine: 00150
Reparto: Electronics - Circuits - Integrated

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